ট্র্যাক-ইচ সনাক্তকারী
যখন কোনও চার্জযুক্ত কণা ধীরে ধীরে ধীরে ধীরে ধীরে ধীরে বন্ধ হয়ে যায়, তখন এটি তার ট্র্যাকের সাথে যে শক্তি সঞ্চয় করে তা পদার্থে স্থায়ী ক্ষতি করতে পারে। সতর্কতার সাথে মাইক্রোস্কোপিক পরীক্ষার অধীনেও এই স্থানীয় ক্ষয়ক্ষতির সরাসরি প্রমাণগুলি পর্যবেক্ষণ করা কঠিন। নির্দিষ্ট কিছু ডাইলেট্রিক উপাদানগুলিতে, তবে কোনও অ্যাসিড বা বেস সমাধান ব্যবহার করে পদার্থের পৃষ্ঠের রাসায়নিক ইচিং (ক্ষয়) এর মাধ্যমে ক্ষতিগ্রস্থ ট্র্যাকের উপস্থিতি প্রকাশিত হতে পারে। যদি চার্জযুক্ত কণাগুলি অতীতে কোনও সময় পৃষ্ঠকে বিকিরণ করে থাকে, তবে প্রতিটি ক্ষতিগ্রস্থ পদার্থের একটি ট্রেইল ছেড়ে দেয় যা পৃষ্ঠ থেকে শুরু হয় এবং কণার পরিসরের সমান গভীরতায় প্রসারিত হয়। পছন্দের উপকরণগুলিতে, এই ট্র্যাকের সাথে রাসায়নিক এচিংয়ের হারটি অবিচ্ছিন্ন পৃষ্ঠের এচিংয়ের হারের চেয়ে বেশি। সুতরাং, যেমন এচিংয়ের অগ্রগতি হয়, প্রতিটি ট্র্যাকের অবস্থানে একটি গর্ত তৈরি হয় is কয়েক ঘন্টার মধ্যে এই পিটগুলি যথেষ্ট পরিমাণে বড় হতে পারে যাতে এগুলি একটি স্বল্প-শক্তি মাইক্রোস্কোপের নীচে সরাসরি দেখা যায়। ইউনিট প্রতি ক্ষেত্রফলের এই পিটের সংখ্যার একটি পরিমাপ তারপরে এমন কণা প্রবাহের একটি পরিমাপ যা পৃষ্ঠটি উন্মোচিত হয়েছিল।
ট্র্যাক বরাবর ক্ষয়ক্ষতির ন্যূনতম ঘনত্ব রয়েছে যা পিচ তৈরির জন্য যথেষ্ট পরিমাণে তৈরি করার আগে প্রয়োজনীয়। কারণ ক্ষতির ঘনত্ব কণার dE / dx এর সাথে সম্পর্কিত, এটি সবচেয়ে ভারী চার্জযুক্ত কণার জন্য সর্বোচ্চ। যে কোনও উপাদানগুলিতে, পিটগুলি বিকাশের আগে ডিই / ডিএক্সের জন্য একটি নির্দিষ্ট ন্যূনতম মান প্রয়োজন। উদাহরণস্বরূপ, খনিজ মিকাতে, পিটগুলি কেবলমাত্র শক্তিশালী ভারী আয়নগুলি থেকে পর্যবেক্ষণ করা হয় যার ভর 10 বা 20 পারমাণবিক ভর ইউনিট বা তার বেশি। অনেকগুলি সাধারণ প্লাস্টিকের উপকরণগুলি আরও সংবেদনশীল এবং হিলিয়াম (আলফা কণাগুলি) মতো নিম্ন-ভর আয়নগুলির জন্য এটিচ পিটগুলি বিকাশ করবে। কিছু বিশেষভাবে সংবেদনশীল প্লাস্টিক যেমন সেলুলোজ নাইট্রেট এমনকি প্রোটনের জন্যও গর্ত তৈরি করবে যা ভারী চার্জযুক্ত কণাগুলির মধ্যে সর্বনিম্ন ক্ষতিকারক। এমন কোনও উপাদান খুঁজে পাওয়া যায় নি যা দ্রুত ইলেক্ট্রনগুলির নিম্ন ডিই / ডিএক্স ট্র্যাকের জন্য পিট তৈরি করে। এই প্রান্তিক আচরণ এ জাতীয় সনাক্তকারীগুলিকে বিটা কণা এবং গামা রশ্মির প্রতি সম্পূর্ণ সংবেদনশীল করে তোলে। এই প্রতিরোধ ক্ষমতা কিছু অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে ব্যবহার করা যেতে পারে যেখানে ভারী চার্জযুক্ত কণার দুর্বল প্রবাহ গামা রশ্মির আরও তীব্র পটভূমির উপস্থিতিতে নিবন্ধিত হতে হয়। উদাহরণস্বরূপ, রেডন গ্যাসের ক্ষয় এবং এর কন্যা পণ্যগুলির দ্বারা উত্পাদিত আলফা কণার অনেক পরিবেশগত পরিমাপ প্লাস্টিকের ট্র্যাক-ইচ ফিল্ম ব্যবহার করে তৈরি করা হয়। সর্বজনীন গামা রশ্মির পটভূমি এই পরিস্থিতিতে অন্যান্য অনেক ধরণের ডিটেক্টরগুলির প্রতিক্রিয়াকে প্রাধান্য দেয়। কিছু উপকরণে ক্ষতির ট্র্যাকটি অনির্দিষ্ট সময়ের জন্য উপাদানটিতে রয়ে গেছে এবং এক্সপোজারের অনেক বছর পরে পিটগুলি আটকে রাখা যেতে পারে। এচিংয়ের বৈশিষ্ট্যগুলি তবে হালকা এবং উচ্চ তাপমাত্রার সংস্পর্শে সম্ভাব্যভাবে প্রভাবিত হয়, সুতরাং ক্ষতির ট্র্যাকগুলি বিবর্ণ হওয়া রোধ করতে এক্সপোজড নমুনাগুলির দীর্ঘস্থায়ী সঞ্চয়স্থানে কিছুটা সতর্কতা অবলম্বন করতে হবে।
উপযুক্ত অপটিকাল-বিশ্লেষণ সফ্টওয়্যারযুক্ত কম্পিউটারগুলিতে মাইক্রোস্কোপ পর্যায়গুলি ব্যবহার করে ইচ পিট ঘনত্ব পরিমাপের জন্য অটোমেটেড পদ্ধতিগুলি বিকাশ করা হয়েছে। এই সিস্টেমগুলি নমুনা পৃষ্ঠের স্ক্র্যাচগুলির মতো "শিল্পকর্মগুলির" বিরুদ্ধে কিছুটা বৈষম্য করতে সক্ষম এবং ইউনিট প্রতি অঞ্চল ট্র্যাকের সংখ্যার যথাযথভাবে সঠিক পরিমাপ সরবরাহ করতে পারে। আরেকটি কৌশল অপেক্ষাকৃত পাতলা প্লাস্টিকের ফিল্মগুলিকে অন্তর্ভুক্ত করে, যার মধ্যে ছোট গর্ত গঠনের জন্য ট্র্যাকগুলি ফিল্মের মাধ্যমে সম্পূর্ণভাবে তৈরি হয়। এই গর্তগুলি তখন স্বয়ংক্রিয়ভাবে উচ্চ-ভোল্টেজ ইলেক্ট্রোডগুলির একটি সেট এবং বৈদ্যুতিনভাবে গর্ত হিসাবে পাস হওয়া স্পার্কগুলি গণনা করে ফিল্মটি পাস করার মাধ্যমে স্বয়ংক্রিয়ভাবে গণনা করা যেতে পারে।
নিউট্রন-অ্যাক্টিভেশন ব্যর্থ
বেশ কয়েকটি মেগা এবং নিম্নের বিকিরণ শক্তিগুলির জন্য, চার্জযুক্ত কণা এবং দ্রুত ইলেক্ট্রনগুলি শোষণকারী পদার্থগুলিতে পারমাণবিক বিক্রিয়া প্ররোচিত করে না। কয়েকটি মেভির নীচে শক্তির সাথে গামা রশ্মিও নিউক্লিয়াস সহ সহজেই প্রতিক্রিয়া জাগায় না। সুতরাং, যখন প্রায় কোনও উপাদান এই ধরণের রেডিয়েশনের দ্বারা বোমাবর্ষণ করা হয় তখন নিউক্লিয়াসহ প্রভাবহীন থাকে এবং তেজস্ক্রিয় পদার্থে কোনও তেজস্ক্রিয়তা প্ররোচিত হয় না।
বিকিরণের সাধারণ ফর্মগুলির মধ্যে নিউট্রনগুলি এই সাধারণ আচরণের ব্যতিক্রম। যেহেতু তারা কোনও চার্জ বহন করে না, এমনকি কম শক্তির নিউট্রনগুলি সহজেই নিউক্লিয়ির সাথে যোগাযোগ করতে পারে এবং পারমাণবিক বিক্রিয়াগুলির একটি বিস্তৃত নির্বাচনকে প্ররোচিত করতে পারে। এর মধ্যে অনেকগুলি প্রতিক্রিয়া তেজস্ক্রিয় পণ্যগুলির দিকে পরিচালিত করে যার উপস্থিতি পরে তাদের ক্ষয়জনিত বিকিরণগুলি অনুধাবন করার জন্য প্রচলিত ডিটেক্টর ব্যবহার করে পরিমাপ করা যেতে পারে। উদাহরণস্বরূপ, নিউক্লিয়াস অনেক ধরণের একটি তেজস্ক্রিয় নিউক্লিয়াস উত্পাদন করতে নিউট্রন শোষণ করবে। এই উপাদানের একটি নমুনা নিউট্রনগুলির সংস্পর্শে আসার সময়, তেজস্ক্রিয় নিউক্লিয়ের একটি জনসংখ্যা জমে। নিউট্রন এক্সপোজার থেকে যখন নমুনাটি সরিয়ে ফেলা হবে, জনসংখ্যার প্রদত্ত অর্ধ-জীবন দিয়ে ক্ষয় হবে। এই ক্ষয়ের মধ্যে প্রায়শই কিছু ধরণের রেডিয়েশন নির্গত হয়, প্রায়শই বিটা কণা বা গামা রশ্মি বা উভয়ই থাকে, যা নীচে বর্ণিত সক্রিয় সনাক্তকরণ পদ্ধতিগুলির মধ্যে একটির সাহায্যে গণনা করা যেতে পারে। কারণ এটি প্ররোচিত তেজস্ক্রিয়তার স্তরের সাথে সম্পর্কিত হতে পারে, তাই নিউট্রন প্রবাহের তীব্রতা যা নমুনাটি প্রকাশ করা হয়েছিল তা এই তেজস্ক্রিয়তা পরিমাপ থেকে অনুমিত করা যায়। যথাযথভাবে সঠিক পরিমাপের অনুমতি দেওয়ার জন্য পর্যাপ্ত তেজস্ক্রিয়তা প্ররোচিত করার জন্য, তুলনামূলকভাবে তীব্র নিউট্রন ফ্লাক্স প্রয়োজন। তাই অ্যাক্টিভেশন ফয়েলগুলি প্রায়শই চুল্লিগুলি, ত্বকের বা নিউট্রনের তীব্র উত্সগুলির আশেপাশে নিউট্রন ক্ষেত্রগুলি পরিমাপ করার কৌশল হিসাবে ব্যবহৃত হয়।
রৌপ্য, ইন্ডিয়াম এবং সোনার মতো উপাদানগুলি ধীর নিউট্রনগুলির পরিমাপের জন্য সাধারণত ব্যবহৃত হয়, তবে আয়রন, ম্যাগনেসিয়াম এবং অ্যালুমিনিয়াম দ্রুত-নিউট্রন পরিমাপের জন্য সম্ভাব্য পছন্দ। এই ক্ষেত্রে, উত্সাহিত কার্যকলাপের অর্ধ-জীবন কয়েক দিনের মধ্যে কয়েক মিনিটের মধ্যে থাকে। সর্বাধিক সম্ভবের কাছে পৌঁছেছে তেজস্ক্রিয় নিউক্লিয়াসের জনসংখ্যা বাড়ানোর জন্য, অনুপ্রাণিত তেজস্ক্রিয়তার আধটি জীবন নিউট্রন ফ্লাকসের সংস্পর্শের সময়ের চেয়ে কম হওয়া উচিত। একই সময়ে, নমুনাটি নিউট্রন ক্ষেত্রটি থেকে সরিয়ে ফেলার পরে, তেজস্ক্রিয়তার সুবিধাজনক গণনা করার জন্য অর্ধ-জীবন অবশ্যই যথেষ্ট দীর্ঘ হতে হবে।
